系統(tǒng)級(jí)測(cè)試
系統(tǒng)級(jí)測(cè)試
隨著晶體管密度和尺寸不斷提升，芯片功能和應(yīng)用場(chǎng)景均越來(lái)越復(fù)雜，傳統(tǒng)的FT（Final Test) 已無(wú)法滿足終端客戶對(duì)FDPPM的要求。
芯云半導(dǎo)體有豐富的系統(tǒng)級(jí)產(chǎn)品測(cè)試(System Level Testing, SLT) 經(jīng)驗(yàn)， 可滿足客戶不同產(chǎn)品尺寸以及溫控場(chǎng)景需求。
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ATE硬件設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)
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老化測(cè)試