隨著晶體管密度和尺寸不斷提升，芯片功能和應(yīng)用場(chǎng)景均越來(lái)越復(fù)雜，傳統(tǒng)的FT（Final Test) 已無(wú)法滿足終端客戶對(duì)FDPPM的要求。

芯云半導(dǎo)體有豐富的系統(tǒng)級(jí)產(chǎn)品測(cè)試(System Level Testing, SLT) 經(jīng)驗(yàn)， 可滿足客戶不同產(chǎn)品尺寸以及溫控場(chǎng)景需求。

 CP針卡設(shè)計(jì)

原理圖設(shè)計(jì)、繪制、Layout、出針圖等。

 FT LB設(shè)計(jì)

原理圖設(shè)計(jì)、繪制、Layout等。

 FT Socket設(shè)計(jì)

根據(jù)FootPrint設(shè)計(jì)Cpin、Pogopin、Kelvinpin等。

 FT ChangeKIT設(shè)計(jì)

包含重力、平移(三溫)、轉(zhuǎn)塔等多個(gè)型號(hào)Handler。